JIS B0261-2004 Parallel screw thread gauges-Measuring method of gauges
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ID： |
172CC0BB408A44F200D10DA3E7CC86F0 |
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文件大小(MB)： |
0.43 |
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页数： |
10 |
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文件格式： |
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日期： |
2024-6-24 |
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购买： |
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B 0261 ： 2004,まえがき,この規格は,工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき,日本精密測定機器,工業会（JMA）から,工業標準原案を具して日本工業規格を改正すべきとの申出があり,日本工業標準調査,会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業規格である,これによって,JISB026L1992は改正され,この規格に置き換えられる,今回の改正では,引用規格との整合性の確認,測定項目,測定箇所,測定要領，測定機器などについて,改正を行った,この規格の一部が,技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の,実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会,は,このような技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の実用新,案登録出願にかかわる確認について,責任はもたない,JISB0261には,次に示す附属書がある,附属書1 （規定）並目ねじよりもピッチが粗い又は山数が少ないねじの場合の三針法による有効径計,算式,附属書2 （規定）本体の表2を用いない場合の三針法による有効径計算式,⑴,B 0261 ： 2004,目次,—ジ,1?適用範囲.. 1,2 .引用規格 1,3 , 定我 1,4 .測定項目,測定箇所,測定要領及び測定機器.. 1,6 .ねじプラグゲージのピッチ測定方法.4,7 .ねじプラグゲージのねじ山の半角測定方法.4,附属書1 （規定）並目ねじよりもピッチが粗い又は山数が少ないねじの場合の三針法による有効径計算式,.. 6,附属書2 （規定）本体の表2を用いない場合の三針法による有効径計算式.. 7,⑵,日本工業規格JIS,B 0261 ： 2004,平行ねじゲージー測定方法,Parallel screw thread gauges—Measuring method of gauges,1,適用範囲 この規格は,JISB0251, JIS B 0254, JIS B 0255Jその他これらに準じる一条ねじで対称,形のねじ山をもつ平行ねじ用ゲージのうち,ねじプラグゲージ及びねじリングゲージ（以下,ねじゲージ,という。）の測定方法について規定する,2 .引用規格 次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成す,る。これらの引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する,JIS B 0101ねじ用語,JIS B 0251 メートルねじ用限界ゲージ,JISB0254管用平行ねじゲージ,JIS B 0255ユニファイねじ用限界ゲージ,JIS B 0271ねじ測定用三針及びねじ測定用四針,JIS B 0659-1製品の幾何特性仕様（GPS） ー表面性状:輪郭曲線方式;測定標準一第1部:標準片,JIS B 7153測定顕微鏡,JIS B 7502 マイクロメータ,JIS B 7506 ブロックゲージ,JIS B 7520 指示マイクロメータ,JIS B 7725ビッカース硬さ試験ー試験機の検証,JIS B 7726 ロックウェル硬さ試験ー試験機の検証,JIS Z2244ビッカース硬さ試験一試験方法,JIS Z 2245 ロックウェル硬さ試験ー試験方法,3 .定義 この規格で用いる主な用語の定義は，JIS B 0101による,4 .測定項目,測定箇所,測定要領及び測定機器 ねじゲージの測定項目，測定箇所,測定要領及び測定,機器を表1に示す,なお,これ以外の測定を必要とする場合には,適宜の方法による,2,B 0261 ： 2004,表1測定項目,測定箇所,測定要領及び測定機器,測定する,ねじゲージ,測定項目測定箇所C1) 測定要領測定機器(?),ねじプラグ,ゲージ,外径,先中元,指示マイクロ メータ又は外側マ,イクロメータによって，測定す,る,■ JIS B 7520に規定す,る指示マイクロメータ,(3)又は JIS B 7502,に坦市すみ外相11マイク,0ルル,;;;;;;;;,型_____,ロ メータ 0),■ JIS B 7506に規定す,る1級のブロックゲー,ジ,个个个,先中元,有効径先，中，元の3か所の1方向,ただし，止り側は先，元の2,か所の1方向でもよい,なお，幾何偏差の影響が無,視できない場合は，測定方向,を追加する,5.による。?測長機器(目量1师,以下),■ JIS B 7506に規定す,る1級のブロックゲー,ジ,■ JIS B 0271に規定す,るねじ測定用三針及び,ねじ測定用四針,ピッチ,4,：：：HHHHii＞：：：：：：：：：：：：：：： 6.による。JIS B 7153に規定する,測定顕微鏡又はピッチ,測定機器,购邮储0,先から元へすべてのピッチ,山の半角,_(2,丒珍丒湿##桑丒专,L,7.による。JIS B 7153に規定する,谷の径及 測定顕微鏡,び谷底の,形状,谷の径は，測定しない。形状は,0 W1W- 測定顕微鏡で拡大し，確認する,1か所,ねじリング,ゲージ,有効径,ピッチ,山の半角,及び谷の,径,—,点検ゲージを用いて点検するこ,とで，有効径,ピッチ，山の半,角及び谷の径の測定に代える,JISB0251, JIS B 0254,又はJIS B 0255に規定,する点検ゲージ,内径,—,直接測定，通り?止り点検又は,はめあい点検による,內径測定機器又は8.に,よるプレーンプラグゲ,ージ,谷底の逃,げ—,目視で確認する。疑義がある場,合は，鋳型などをとり，測定す,る,JIS ……
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